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●基本精度：±0.65％rdg。
●机身尺寸为半机架，测试头为手掌大小
●全接触检查（DCR测量，Hi-Z拒绝，波形判断）
●在分析仪模式下扫描测量频率和测量信号电平时进行测量日本日置Hioki阻抗分析仪IM7583

日本日置Hioki阻抗分析仪IM7583-日本日置

阻抗分析仪
IM7583

测量频率：1 MHz-600 MHz
频率和阻抗扫描功能，
带电平扫描LCR仪表功能，可在设定条件下反复检查

学术价格目标产品

●测量频率：1 MHz至600 MHz ●测量时间：快0.5 ms（模拟测量时间） ●基本精度：±0.65％rdg。 ●机身尺寸为半机架，测试头为手掌大小 ●全接触检查（DCR测量，Hi-Z拒绝，波形判断） ●在分析仪模式下扫描测量频率和测量信号电平时进行测量

可以基于测量结果估计五个等效电路模型的常数。模拟功能还允许您使用估计结果或任何常数显示频率响应的理想值。此外，如果使用比较器功能，则可以检查测量结果是否在判断区域内。

IM 7580系列涵盖1 MHz至3 GHz的五种测量频率。通过与兼容六种尺寸SMD的测试夹具IM9201相结合，可以轻松可靠地进行样品测量。

通过分析仪模式下的比较器功能，可以检查测量值是否在任意设定的判断区域内。 “区域判断功能”设定上限值和下限值的范围，并将判断结果显示为IN / NG。

通过分析仪模式下的比较器功能，可以检查测量值是否在任意设定的判断区域内。 “峰值判断功能”通过上限值，下限值，左限制值，右限制值设置范围，并通过IN / NG显示测量的峰值是否在确定区域中。

通过分析仪模式下的比较器功能，可以检查测量值是否在任意设定的判断区域内。 “现场判断功能”选择任意扫描点和参数，多可判断16个点。

通过使用比较器功能，您可以检查测量值是否在任意设置的判断区域中。此功能适用于判断样品质量。

日本日置Hioki阻抗分析仪IM7583 日本日置Hioki阻抗分析仪IM7583

您可以使用接触检查功能检查样品和测量端子的接触状态，并检查接触故障和连接状态。

将测试头电缆连接到阻抗分析仪。拧紧螺母，直到扭矩扳手手柄略微弯曲（0.56 N·m）。请注意过度拧紧。

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