●检查0.1mΩ，高精度0.16％，高分辨率0.01μΩ。超高精度，高分辨率电阻测试仪，适用于分流电阻的出货检验
●优异的重复性
●具有接触检查，比较器和数据输出功能
●适用于具有直观用户界面和高抗噪性的自动化机器 日本日置Hioki电阻表RM3543

电阻表
RM3543

电阻表对应超低低分流时代

●检查0.1mΩ，高精度0.16％，高分辨率0.01μΩ。超高精度，高分辨率电阻测试仪，适用于分流电阻的出货检验 ●优异的重复性 ●具有接触检查，比较器和数据输出功能 ●适用于具有直观用户界面和高抗噪性的自动化机器

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• RM3543-01
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超低电阻，电阻表对应分流电阻

电阻表RM3543可测量0.1mΩ，直流电阻如低分流电阻，高精度±0.16％，高分辨率0.01μΩ*。（*低于10mΩ范围，测量速度SLOW，平均16次）

偏置电压校正功能可降低热电动势的影响

热电力是在不同金属连接处发生的电位差（图）。具体地，它发生在测量探针和测量对象接触的区域，以及测量仪器和测量引线的连接区域。热电动势的大小也根据测量环境的温度而变化，并且温差越大，热电动势越大。RM3543具有偏移电压校正功能，可以在正负方向上传递测量电流，并使用每个的检测电压来消除热电动势的影响。

通过缩放功能更正了安装状态

缩放功能可以在板实际阶段和单板检查之间检查时补偿电阻的差异（例如，探测位置的影响）。它可用于测试低电阻电流检测电阻，如分流器。

快速可靠的接触，接触改善功能

当接触待测样品时，探针和样品之间的氧化膜和污垢被刺穿以改善接触。接触缺陷的改善导致稳定的测量并降低接触错误率，从而提高生产率。

保持4端子测量可靠，探头短路检测功能

如果测量探头的POT-CUR之间有异物，则无法保持可靠的四端子连接。不测量时，测量POT-CUR之间的电阻并检查探头的短路异常。

日本日置Hioki电阻表RM3543  日本日置Hioki电阻表RM3543