日本日置磁场测量仪 FT3470-日本日置

产地类别 进口    

●适用于基于ICNIRP 2010指南的评估测试
●符合IEC / EN 62233
●适用于空间分布研究的3 cm2磁场传感器和IEC / EN 622323中使用的100 cm2磁场传感器是标准配件
●可选择的显示单位(T,A / m,G)
●测量简单,操作简便
●包括PC应用标准
●3轴(XYZ)波形输出,具有组合均方根值输出
日本日置磁场测量仪 FT3470

日本日置磁场测量仪 FT3470-日本日置

磁场测量仪
FT3470

强大支持三轴磁通密度测量,用于IEC / EN 62233*性测试

●适用于基于ICNIRP 2010指南的评估测试 ●符合IEC / EN 62233 ●适用于空间分布研究的3 cm2磁场传感器和IEC / EN 622323中使用的100 cm2磁场传感器是标准配件 ●可选择的显示单位(T,A / m,G) ●测量简单,操作简便 ●包括PC应用标准 ●3轴(XYZ)波形输出,具有组合均方根值输出

可以显示3个轴(X,Y,Z)的每个磁场的值

日本日置磁场测量仪 FT3470-日本日置

在当前流动物体周围产生的空间称为“磁场”。因为磁场具有方向,并且测量值可能根据方向而不同,所以需要测量所有三个轴。FT3470-50系列可以执行测量,因为它同时测量3个轴并找到具有组合值(R)的值。

可选择的磁通密度单位

日本日置磁场测量仪 FT3470-日本日置

它可以对应于磁通密度单位显示,该单位取决于标准或规则,如T(特斯拉),A / m(安培每米),G(高斯)。

磁通密度合成均方根电平,曝光电平模拟输出功能(仅限FT3470-51,FT3470-52)

日本日置磁场测量仪 FT3470-日本日置

它可以连接到记录仪或记录仪以记录有效值。有用于长期观察。输出速率为0.1 mV /显示值(基于磁通密度单位T)

X,Y,Z轴上磁通密度(T)的波形输出函数(仅限FT3470-51,FT3470-52)

日本日置磁场测量仪 FT3470-日本日置

它可以连接到示波器或存储器高编码器,以观察磁场的波形。输出速率为0.1 mV /显示值(基于磁通密度单位T)

日本日置磁场测量仪 FT3470日本日置磁场测量仪 FT3470