通过晶体振荡
，曲面/球面对也可以实现高精度和短测量时间

·测量值显示为数字型，易于读取
·开启时测量同时开始，测量时间小于1秒
·高稳定性（±1％）高精度
· 石英振荡法无损检测
·可直接读取因为转换是不必要的
日本电测膜厚计DS-110

涡流膜厚度计DS-110

通过晶体振荡
，曲面/球面对也可以实现高精度和短测量时间

·测量值显示为数字型，易于读取
·开启时测量同时开始，测量时间小于1秒
·高稳定性（±1％）高精度
· 石英振荡法无损检测
·可直接读取因为转换是不必要的

涡流膜厚度计DS-110的特点

易于阅读的数字类型

测量值显示是数字的，易于阅读。

可以立即进行测量

可以在打开开关的同时进行测量。测量时间也在1秒内。

高稳定性（±1％）高精度

通过晶体振荡方法实现高稳定性（±1％）的高精度。

可以检查

由于它是非破坏性的，因此可以进行检查。

无需转换

无需直接阅读和转换。

支持各种测量

它可以测量金属上的薄膜，电镀，涂漆，树脂等。（例如：铝上的氧化膜，铁上的锌电镀等）

多可保存1000个数据

可以使用一条检查线存储1000个数据。

非金属上金属薄膜的测量

它可以测量非金属上的金属薄膜（例如塑料上的镀层）。

标准可以多测量70种薄膜厚度

通过切换开关，您可以测量多达四种类型的薄膜厚度。此外，通过更换制造商的检查线，可以进行70多种膜厚测量。

在曲面，球体或管道内也可以进行测量

也可以测量弯曲或球形体。另外，也可以测量管道等的内表面（φ12.7mm或更大）。

打印输出功能

您可以打印出测量数据和统计处理值。

测量原理

当具有高频电流的探针（探针线圈）靠近金属时，在金属表面中产生涡电流。该涡电流受高频磁场的强度和频率，金属的导电性，厚度和形状等的影响，并且穿透深度和其尺寸不同。 并且，由于涡电流流动以抵消探头的高频磁场，因此探头的高频电阻值发生变化。放大该高频电阻值的变化，进行曲线校正，并将其显示为数字值。因此，膜厚度值可以直接读作数字。通过微计算机计算执行曲线校正。由于这种高精度，高稳定性。

涡流膜厚度计DS-110的规格

电源	使用AC适配器AC100V至240V
重量	3.4千克
维	330（W）×90（D）×180（H）mm

注意：规格如有更改，恕不另行通知。

涡流薄膜厚度计DS-110的探头规格

1.探头的效果范围使用精密探头时	Fai5mm  Fai3mm
2.探针线长度	900毫米
3.根据导轨类型在曲面上测量
4.探针类型	MP型…用于平凸凹面（标准） SM型…用于平凸凹面（非常薄） RP型…凹面， SR型用于管道内表面…用于 上述小直径管内表面的探针C和D有4种类型。
5.探针指南	＃180：用于平面测量 ＃120  ：用于φ25-60mm 凸面测量＃90：用于φ30mm或更小的凸面测量

日本电测膜厚计DS-110 日本电测膜厚计DS-110