可在短时间内（0.7秒）测量绝缘体上的金属膜，具有高精度
在0.7秒内测量绝缘体上的金属薄膜 –
读取屏幕 – 易于校准和测量 – 可以立即查看图形，轮廓等 –
异常值检测功能 日本电测膜厚计RST-231

电阻膜厚度计RST-231

易于操作
，可在短时间内（0.7秒）测量绝缘体上的金属膜，具有高精度

– 在0.7秒内测量绝缘体上的金属薄膜 – 
使用PC 
轻松
读取屏幕 – 易于校准和测量 – 可以立即查看图形，轮廓等 – 
异常值检测功能

电阻膜厚度计RST-231的特点

在0.7秒内测量绝缘体上的金属膜

在短时间（0.7秒）内高精度地测量绝缘体上的金属膜（例如铜箔和印刷电路板的电镀）。

易于查看的屏幕配置

屏幕宽大，明亮，使用PC可轻松查看。

易于校准和测量

易于校准和测量。可以选择两个测量范围（2至24μm，10至120μm）。

可以立即看到各种数字

经过统计处理后，可以立即看到直方图，轮廓和xR图表。

异常值检测功能

如果设定膜厚度的上限和下限，则通知异常值。

我们每次探测都应对交流

如果探针*损坏，可以更换每个*，并且可以以低成本进行修复。

易于统计处理

可以为每个通道保存测量数据，并且可以稍后在测量数据上设置统计项目以进行统计处理。

多可注册40个频道

多可注册40个通道，因此您可以根据用户名和部件号​​分别注册来管理通道。

我们每次探测都应对交流

使用4-探针探针（开尔文型），可以高精度地测量双面和多层基板，而不受背面和内层的影响。

直方图

xR图表

统计显示

	探头间距	探针提示
KD-110	1毫米	0.1R※标准品
KD-105	1毫米	0.05R
KD-120	1毫米	0.2R
KD-210	2毫米	0.1R
KD-220	2毫米	0.2R

测量原理

探头有四个直立的金属销（探头）。 使四个探针与待测量的绝缘体上的金属箔或金属电镀表面接触。向外部两个探头施加恒定电流（I）并测量电压（V）。与探针接触的金属箔或金属镀层的厚度（T）可以在某些条件下通过下式计算。 T = K×I÷V  这里，K是常数 ，因此如果测量两个内部探头之间的电压，可以测量金属箔或金属镀层的厚度。

电阻膜厚度计RST-231规格·4探头探头规格

型号（车身）	RST-231型
测量原理	4探针电阻型
测量范围	2至24μm，10至120μm
频道数量	40个频道
数据容量	100,000个数据
显示	通过PC监视器屏幕
统计处理	值，小值，平均值，标准偏差，直方图，上限/下限设置
电源	AC 100至240 V 50/60 Hz，10 VA（主机）
维	280（宽）x 230（长）x 88（高）（正文）
附件	4探针探针KD-110  标准板TCU-145

注意：规格如有更改，恕不另行通知。

日本电测膜厚计RST-231 日本电测膜厚计RST-231

 

TQ-50NG16

TQ-100NG16

TQ-150NG16

TQ-200NG16

TQ-300NG16

TQ-500NG16

TQ-1KNG16

TQ-1.5KNG16

TQ-2KNG16

TQ-3KNG16

TQ-4KNG16

TQ-5KNG16

TQ-7KNG16

TQ-10KNG16

TQR-200MNA32

TQR-500MNA32

TQR-1NA32

TQR-2NA32

TQR-3NA32

TQR-5NA32

TQT-2NB57M2G4

TQT-5NB57M2G4

TQT-10NB57M2G4

TQT-20NB57M2G4

TQT-30NB57M2G4

TQT-50NB57M2G4

TQT-70NB57M2G4

LC-10KNE450

LC-20KNE450

LT-5KNG56

LT-10KNG56

LT-20KN

PG-200MPG7

PG-300MPG7

PG-400MPG7