阻抗分析仪 IM3570 SMD测试夹具 IM9201
高频测量3GHz，对应6种尺寸的SMD
● IM7580系列专用SMD测试治具
● 2种设备指南，可对应6种尺寸的SMD
● 对应SMD尺寸※1 0603, 1005, 1608, 2012, 3216, 3225
　※1：JIS单位mm，相当于EIA0201～EIA1210尺寸

SMD测试夹具 IM9201 日本日置 阻抗分析仪 IM3570

 

SMD测试夹具 IM9201

高频测量3GHz，对应6种尺寸的SMD

● IM7580系列专用SMD测试治具
● 2种设备指南，可对应6种尺寸的SMD
● 对应SMD尺寸※1 0603, 1005, 1608, 2012, 3216, 3225
　※1：JIS单位mm，相当于EIA0201～EIA1210尺寸

 

基本参数

可用频率范围	DC～3 GHz
可测样品尺寸	0603, 1005, 1608, 2012, 3216, 3225 (JIS单位mm, 相当于EIA 0201～EIA 1210尺寸)
电极结构	底部电极
zui大输入电压	±42 Vpeak (AC+DC)
适用机型	IM7580, IM7580A, IM7581, IM7583, IM7585, IM7587※ ※测试频率高达3GHz，近日发售
追加误差	阻抗： ±Ze [%] 相位 ： ±0.58 × Ze [°] Ze = Ae + (Zse / Zx + Yoe × Zx) ×100 Zx : 阻抗测量值 [Ω] Ae：4 × f2 [%] Zse : (100 + 500 × f) /1000 [Ω] Yoe : (10 + 100 × f) /1000000 [S] f [GHz]

 

测试治具

测试治具和校正器的组合请咨询各分支机构。

测试夹具台IM9200

标配放大镜

校准套件IM9905

OPEN/SHORT/LOAD的套装

适配器(3.5mm-7mm)IM9906

3.5mm(公头)-7mm转换

 

阻抗分析仪 IM3570

1台仪器实现不同测量条件下的高速检查

● 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
● LCR模式下zui快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量
● 基本精度±0.08%的高精度测量
● 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量
● 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
● 可以用于无线充电评价系统TS2400

SMD测试夹具 IM9201 日本日置 阻抗分析仪 IM3570

基本参数

测量模式	LCR（LCR测量），分析仪（扫描测量），连续测量
测量参数	Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流电阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q
测量量程	100mΩ~100MΩ，12档量程（所有参数由Z确定）
显示范围	Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[单位]~9.999999G[单位]，仅Z和Y显示juedui值 θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999） Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%）
基本精度	Z：±0.08%rdg. θ：±0.05°
测量频率	4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步进）
测量信号电平	V模式，CV模式（普通模式） 50mV~1Vrms，1mVrms步进（1MHz以下） 10mV~1Vrms，1mVrms步进（1.0001MHz以上） CC模式（普通模式） 10μA~50mA rms，10μA rms步进（1MHz以下） 10μA~10mA rms，10μA rms步进（1.0001MHz以上）
输出阻抗	普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω
显示	彩色TFT5.7英寸，可设置显示ON/OFF
测量时间	0.5ms（100kHz，FAST，显示OFF，代表值）
测量速度	FAST/MED/SLOW/SLOW2
其他功能	DC偏压测量，比较功能，面板读取和保存，存储功能
接口	EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通讯，U盘，LAN
电源	AC90~264V，50/60Hz，zui大150VA
打印	拷贝测量值或屏幕显示的要点（需用9442，9593-01和9446）
接口	GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有标准)
电源	AC90~264V，50/60Hz，zui大150VA
体积和重量	330W×119H×307Dmm，5.8kg
附件	电源线×1，使用说明书×1，通讯手册×1